Два высокопоставленных члена Палаты представителей США от республиканской партии в пятницу, 6 октября, призвали администрацию Байдена ужесточить контроль за экспортом в отношении передачи передовых компьютерных чипов и связанных с ними производственных инструментов в Китай.
В переписке, адресованной советнику по национальной безопасности Джейку Салливану, представители Майкл Маккол и Майк Галлахер, занимающие руководящие должности в комитете Палаты представителей по иностранным делам и специальном комитете по Китаю, заявили, что последние технологические достижения ведущих китайских производителей чипов подчеркивают необходимость пересмотра всеобъемлющие правила, введенные примерно год назад. Они подчеркивают необходимость устранения того, что они считают недостатками или «лазейками» в существующих правилах.
Письмо последовало за презентацией смартфона Huawei Technologies Mate 60 Pro, в котором использованы передовые чипы производства Chinas Semiconductor Manufacturing International Corp (SMIC). Это произошло, несмотря на санкции США.
МакКол и Галлахер написали в своем письме: «Правила, введенные 7 октября, и расширяющиеся возможности SMIC служат примером инертной и непрозрачной бюрократической системы, которая не понимает промышленной стратегии Китая, не понимает военных целей Китая и демонстрирует недостаток технологического понимания». Кроме того, похоже, что ему не хватает решимости предпринять эффективные действия».
Законодатели призвали администрацию Байдена модернизировать правила и оперативно отреагировать на Huawei и SMIC. Они также призвали администрацию прекратить доступ китайских фирм к мощным чипам искусственного интеллекта, которые можно получить через службы облачных вычислений.
Кроме того, они подчеркнули важность обеспечения соблюдения существующих правил администрации, которые налагают ограничения на китайские предприятия, особенно тех, которые мешают официальным лицам США проверять соблюдение экспортных правил США.
Журнал: «ИИ убил индустрию»: руководитель EasyTranslate об адаптации к изменениям
Источник